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在硅太陽能電池板的生產過程中，硅晶體中的應力在制作過程中往往沒有被檢測到，我們描述了一種測量硅錠的應力雙折射檢測，它可以是方形的，也可以是生長的，然后被鋸成硅片，當這臺儀器被用作質量控制工具時，在后續(xù)加工成本發(fā)生之前，可以識別出低質量的硅錠或鋼錠。此外，該儀器還為硅晶體的生長提供了一種提高硅錠質量的工具，使其能夠生產出較薄的硅片，降低了機械產量損失。

Hinds Instruments 的ExicorOIA 是透鏡、平行面光學、曲面光學在正常和斜入角度評估的主要應力雙折射測量系統(tǒng)。該系統(tǒng)是建立在Hinds lnsrtuments 光彈調制器（ PEM）基于Exicor®雙折射測量技術。新一代的雙折射測量系統(tǒng)為該行業(yè)提供了分析和開發(fā)下一代光刻透鏡、透鏡毛坯和高價值精密光學的新能力。

圓二色性測量系統(tǒng)使用垂直光路直接從標準孔板測量圓二色性。這樣就不需要將溶液轉移到試管中進行篩選，也不需要在分析過程中清洗試管

各向異性測量系統(tǒng)2-MGEM橢圓計是一個重大的突破，光學各向異性測量技術更快、更準確、收集更多的數(shù)據(jù)。

Strokes 偏振計在光學元件表征、光學系統(tǒng)光束輸出特性、天文學、光纖制造、光源和激光質量控制等方面有著廣泛的應用。

雙折射顯微鏡 EXICOR-MICROIMAGER為學術界和工業(yè)界的研究人員提供了評估雙折射的能力。無論是生物材料還是工業(yè)材料。

雙折射（應力）測量系統(tǒng) EXICOR-SYSTERMS，設計減去了光學系統(tǒng)中的移動部件，并避免了在測量角度之間切換。 氦氖激光束被偏振，然后被PEM調制。